融合了计量学和断层X射线摄影，测量技术的新革命！
蔡司 METROTOM断层扫描测量机——测量技术的新革命
蔡司 Metrotomo融合了计量学和断层X射线摄影法,开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合,现在可以进行高精度和无损测量。
断层扫描分析如同在工件内≡部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术,例如：装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查,如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样。
在此之前或许不能检测，或只能通过耗费时间和成本的接口进行检测的场合，现在断层扫描分析可以快速明确地检测误差。
重要特征
深思熟虑的设计
● 三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器
● 用于装夹工件的转台和蔡司的运动单元
安全技术
● 全防护测量间
● 满足了根据DN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例
● 根据人机工程学优↓化的设计(专用上料位置)
机器技术
来自卡尔蔡司的精密运动系统；
● 自加工的精密机械组件 ● 导轨误差补偿(CAA计算机辅助误差修正技术)
气浮轴承转台：
● 蔡司原装转台,配有直接驱动 ● 自产气浮轴承
● 最大载荷(中心):500N ● 轴向误差fa=0.1μm,径向误差fa=0.2μm
使用断层成像技术优化产品内部工艺
● 装配检查 ● 模具修复——几何量对比 ● 材料分析
● 几何量测量 ● 无损瑕疵检测 ● 逆向工程
● 孔隙率分析 ● 损害分析
针对设备的验收测试阶段,卡尔▅蔡司使用基于VDI/VDE 2630开发的标准器具,同时可提供测量不确定性的相应对比测试及测量机的测量系统分析。
仪器参数/仪器型号 | METROTOM 800 | METROTOM 1500 | |
测量范围（mm） | 直径150*170 | 直径170*150 | 直径350*300 |
分辨率（μm） | 3.5-6 | ||
射线管类∞型 | 密闭式微焦点射线管 | 开放式X射线技术 | |
射线管，管功率 | 130Kv，39W | 225Kv，500W | |
探测器分辨率 | 1536*1920 | 1024*1024 | 2048*2048 |
放射源-探测器距离（mm） | 800 | 800 | 1500 |
软件 | CALYPSO | ||
壳体材料 | 聚合物混凝土 | 铅 | |
用途 | 测量实验室 | ||
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